Imitance je souhrnný název pro impedanci a admitanci. Impedance se používá většinou u sériových obvodů a admitance u paralelních. Proto když použijeme pojem imitance, nerozlišujeme druh obvodu, například rezonanční kmitočet sériového obvodu je shodný s kmitočtem parelelního zapojejí stejných prvků.
Jako impedanci v obecném slova smyslu označujeme poměr napětí a proudu. Je-li fázový posuv mezi proudem a napětím nulový, mluvíme o odporu činném. Je-li posuv +90°, jde o jalový odpor (reaktanci) indukční. Je-li posuv -90°, jde o reaktanci kapacitní. Při všech ostatních posuvech mimo tři jmenované jde o impedance, a to při kladném posuvu rázu indukčního, nebo při záporném posuvu o kapacitní.
Impedanci značíme Z a jednotkou je ohm (Ω).
Jako admitanci v obecném slova smyslu označujeme poměr proudu a napětí. Je to převrácená hodnota impedance.
Admitanci značíme Y a jednotkou je siemens (S).
Další důležitou součástí imitancí určujeme činitel jakosti a ztrátový činitel. Pomocí těchto parametrů určuje kvalitu obvodu (nebo součástky). Oba dva parametry jsou bezrozměrná čísla (nemají jednotku). Vycházejí ze základních náhradních schémat (pro nf). Použijeme tedy reálné cívky a kondenzátory, většinou činitel jakosti uvádíme u cívek a ztrátový činitel u kondenzátorů (ale můžeme se setkat s tím, že je tomu naopak).
Náhradní schéma je pro nízkofrekvenční signál, protože pro vf signál by se uplatnila i parazitní kapacita.
Převzato ze zdroje [o1].
Obr. 1 - Náhradní schéma cívky a) sériové b) paralelní
Ze schématu můžeme usoudit, že reálná cívka obsahuje čistou indukčnost L s fázovým posuvem 90° a ztrátový odpor, který upravuje výsledný fázový posuv [φ ∈ (0°;90°)]. U cívek většinou používáme sériové náhradní schéma.
\(Q=\frac{\omega \cdot L_s}{R_s}\; \; \mathrm{(-;\ s^{-1};\ H;\ \Omega)}\)
\(Q=\frac{R_p}{\omega \cdot L_p}\; \; \mathrm{(-;\ \Omega;\ s^{-1};\ H)}\)
\(L_p \doteq L_s \implies R_p=R_s\cdot Q^2\)
Náhradní schéma zase platí pro nf signál (u vf by se projevila parazitní indukčnost).
Obr. 2 - Náhradní schéma kondenzátoru a) paralelní b) sériové
Převzato ze zdroje [o2].
Ze schématu vidíme, že reálný kondenzátor obsahuje ideální kondenzátor a ztrátový odpor. U kondenzátorů používáme náhradní schéma paralelní, ale při měření kondenzátorů většinou měříme odpor sériový Rs, který označujeme zkratkou ESR (equivalent series resistance, v překladu ekvivalentní sériový odpor).
\(\mathrm{tg} \delta=\frac{1}{\omega \cdot C_p \cdot R_p}\; \mathrm{(-;\ s^{-1};\ F;\ \Omega)}\)
\(\mathrm{tg} \delta=\omega \cdot C_s \cdot R_s \; \mathrm{(-;\ s^{-1};\ F;\ \Omega)}\)
\(C_p \doteq C_s \implies R_s = R_p\cdot \mathrm{tg}^2\delta\)
\(Q=\frac{1}{\mathrm{tg}\delta}\)
Rozlišujeme několik metod měření imitancí, rozdělíme si je do dvou skupin a to měření přímých a nepřímých. U metod přímých se budeme zabývat nulovou metodou a u nepřímých se budeme zabývat metodou výchylky.
Jedná se o všechny metody, u kterých musíme tížený údaj vypočítat. Zde si ukážeme upravenou Ohmovu metodu. Máme střídavý ampérmetr, voltmetr, kmitoměr (čítač) a měřenou imitanci. Nastavíme napětí a odečteme proud tekoucí imitancí a kmitočet signálu. Z těchto tří hodnot jsme schopni (za předpokladu, že víme, o jakou součástku se jedná) vypočítat hodnotu součástky, její kapacitu nebo indukčnost. Kdybychom nevěděli, jakou součástku vlastně měříme, potřebovali bychom generátor signálu minimálně o dvou různých frekvencích (třeba 50 Hz a 1 kHz). Tato metoda je nepřesná, zatížena velkou chybou a je zdlouhavá.
Jedná se o všechny metody, u kterých dostaneme z přístroje údaj o velikosti imitance. Většinou se měří nulovou metodou na speciálních přístrojích, které označujeme jako RLC nebo RLCG můstky. Zde se seznámíme se základními můstky pro měření odporu, indukčnosti a kapacity.
Základní můstek (na obr. 3) pro měření odporů. Je většinou napájen stejnosměrným proudem. Hodnotu zjistíme díky tzv. vyvážení. To znamená, že napětí mezi bodem B a C je nulové (tedy i proud indikátorem je nulový, při stisknutém tlačítku T). Následně platí rovnice:
\(R_X \cdot R_4=R_2 \cdot R_3 \implies R_X=R_2 \cdot \frac {R_3}{R_4}\)
Obr. 3 - Wheatstoneův můstek
U dílenských můstků se rezistory R3 a R4 nahrazují kalibrovaným potenciometrem, kde jezdec je připojen ke galvanometru.
Tento můstek je napájen střídavým proudem (většinou 1 kHz). Oproti De Sautyho můstku lze plně vyvážit. Pomocí tohoto můstku určujeme velikost kapacity kondenzátoru a jeho sériový ztrátový odpor ESR (tedy jsme schopni určit/měřit ztrátový činitel). Wienův můstek můžete vidět na následujícím obrázku (obr. 4).
obr. 4 - Wienův můstek
Pro Wienův můstek platí následující rovnice:
\(Z_X \cdot Z_4 = Z_N \cdot Z_3 \)
\(\varphi_X + \varphi_4 = \varphi_N + \varphi_3\)
\(\Big(R_X+\frac{1}{j\omega C_X}\Big)R_4= \Big (R_N+\frac{1}{j\omega C_N} \Big)R_3\)
\(\underline {R_XR_4+\frac{R_4}{j\omega C_X}=R_NR_3+\frac{R_3}{j \omega C_N}}\)
\(R_X=R_N\frac{R_3}{R4} \;a\;C_X=C_N\frac{R_4}{R_3}\)
\(\mathrm{tg}\delta_X=\mathrm{tg}\delta_N=\omega R_N C_N\)
Tento můstek slouží k měření cívek, jedná se o upravený Wienův můstek.
obr. 5 - Maxwell-Wienův můstek
Vzorce:
\(L_X=R_2R_3C_4\)
\(R_X=R_2\frac{R_3}{R_4}\)
\(Q=\omega R_4 C_4\)
Je přístroj využívající rezonanční metody. Základem je sériový rezonanční obvod, který je při měření vyladěn do rezonance. Při rezonanci je kapacitance rovna induktanci (na obou je stejně velké napětí, jen s opačnou fází). Jak je výše uvedeno činitel jakosti je roven podílu induktance a sériového odporu. Při rezonanci platí následující vztah:
\(U_L=QU\)
Generátor může být s měřícím obvodem vázán odporově, kapacitně nebo indukčně. Na schématu je vazba odporová. Laditelný generátor G napájí měřící obvod přes dělič s rezistory R1 a R2, kde R2 musí být velmi malý (řádu 10-2), protože je součástí měřícího rezonančního obvodu. Ten se vyladí do rezonance pomocí proměnného kondenzátoru C, který je kalibrový a musí být velmi kvalitní. Rezonance se projeví největší výchylkou elektronického voltmetru V2, který ukazuje přímo hodnotu činitele jakosti, je-li vlastní kapacita cívky zanedbatelná. Vstupní napětí, měřené elektronickým voltmetrem V1, nastavíme vždy na tu hodnotu, při níž byl měřič kalibrován.
Při uvádění přístroje do provozu je nutné řídit se přesně návodem k obsluze. Po zapnutí je třeba počkat minimálně 15 min, aby se tepelně ustálil. Cívku připojujeme na svorky LX tak, aby její osa byla rovnoběžná s panelem, nikoliv k němu kolmá.
Q-metr neslouží jen k určení činitele jakosti cívek, lze jím měřit i jejich indukčnost a kapacitu. Používá se i k měření kapacity a ztrátového činitele kondenzátoru, k měření vlastností rezistorů při vyšších frekvencích a k určování parametrů vf vedení.
[1] Kraemer, Jindřich a Nývlt, Jaroslav: Elektrotechnická měření II, pro 4. ročník SPŠE. Praha: SNTL, 1981. 384 s (strany 198-199).
[2] Maťátko, Jan: Elektronika. Praha: IDEA SERVIS, 2008. 356 s. ISBN 978-808-5970-647.
[3] Fiala, Miloš, Vrožina, Milan a Hercik, Jiří: Elektrotechnická měření I, pro 3. ročník SPŠE. Praha: SNTL, 1981. 352 s.
[o1] Maťátko, Jan: Elektronika. Praha: IDEA SERVIS, 2008. 356 s. ISBN 978-808-5970-647. Ze strany 65.
[o2] Maťátko, Jan: Elektronika. Praha: IDEA SERVIS, 2008. 356 s. ISBN 978-808-5970-647. Ze strany 59.
Přidal Vojtěch Šotola. Naposledy upravil Vojtěch Šotola dne 2016-08-05 19:59:11.